مشكلة استخدام الميكروسكوب الإلكتروني

توجد مشكلة خطيرة عند الفحص بالميكروسكوب الالكتروني وهي الاتلاف الذي يمكن ان تتعرض له عينة البوليمر نتيجة لاختراق شعاع الالكترونات بها. وهذه المشكلة يمكن التغلب عليها إما:

* بتبريد العينة اثناء فحصها.

* او استخدام فرق جهد (فولت) متزايد، (acceleration voltage).

في عان 1965 م صنعت الاجهزة الخاصة بالميكروسكوب الالكتروني لفحص المسح الشامل (scanning electron microscope) والذي فيه يتحرك شعاع من الالكترونات على كل سطح العينة المعتمة ومن تشتت الالكترونات نتيجة التصادم على العينة تنتج صورة تليفزيونية عن العينة تحت الفحص تظهر ف الثلاثة أبعاد.

وفي الاشكال (1 ، 2، 3، 4) تظهر صورة مأخوذة من فحص لميكروسكوب الالكتروني للتركيب الداخلي لعدة مواد بوليمرية.

شكل (1) : صورة بلورة منفردة من البولي اثيلين كما تشاهد بالمايكرو سكوب الاليكتروني

شكل (2) : صورة مقطعة من البلورات الكروية (السيفروليت) كما تشاهد بالمايكرو سكوب الاليكتروني

شكل (3) : صورة المايكرو سكوب الاليكتروني لروابط الوصل بين المناطق المتبلورة من جزيئات البوليمر

شكل (4) : صورة المايكرو سكوب الاليكتروني لتجمعات البلورات